E32系列型號一覽
特點
標準安裝
螺紋型
E32系列 特點 2
•標準的螺紋形狀。在支架上開孔，使用螺母安裝。
•直角型的電纜可沿壁面接線，因此擁有不易鉤掛的優(yōu)點。
E32系列 特點 3
圓柱型
E32系列 特點 4
•可插入狹小的空間內(nèi)進行安裝。（使用緊固螺絲安裝）
•φ1×10mm 的超小型傳感頭，極其節(jié)省空間。
E32系列 特點 5
節(jié)省空間
扁平型
E32系列 特點 7
•薄型，能夠安裝到狹窄的空間。
•直接安裝，不需要專用安裝支架。
套管型（在物體附近檢測）
E32系列 特點 8
•可在遠離安裝位置處進行檢測，因此，即使是較小物體，也能夠靠近進行穩(wěn)定檢測。
E32系列 特點 9
•可自由改變套管形狀。
光束強化
小光點反射（檢測微小物體）
E32系列 特點 12
•光點小，適用于微小物體的檢測。
請根據(jù)檢測物體的大小和設置距離，選擇適合的傳感器。
（參見—確定型號時的參考信息—）
•此外，還有可根據(jù)工件大小，只對拔出量和距離做出調(diào)整，就能夠更改光點直徑，不需更換光纖的光點可變型的透鏡單元。
請參見下面的拔出量-焦點距離-光點直徑曲線。
E32系列 特點 14
*拔出量: 約1.3 to 5.8 mm
大功率（遠距離安裝/耐塵）
E32系列 特點 15
•不裝透鏡***大檢測距離；20 m (E32-T17L)
可用于大型物體
•有些電源不會輕易受到灰塵及臟污等的影響。
•有的產(chǎn)品僅安裝透鏡，即可輕松實現(xiàn)長距離化。
窄視野（跨間隙檢測）
E32系列 特點 16
•由于光束細，因周邊物體反射而發(fā)生的反饋輸入不會造成誤動作。
E32系列 特點 17
無背景檢測
E32系列 特點 18
•不檢測背景（位于一定距離以外的物體），只穩(wěn)定檢測在檢測范圍內(nèi)的物體。
其特點是不易受到檢測物體材質(zhì)及顏色的影響。
E32系列 特點 19
透明物體檢測
回歸反射型
E32系列 特點 21
•回歸反射型適用于檢測透明物體。
光束兩次通過物體，因此遮光量大于對射型。
E32系列 特點 22
•對透明薄膜進行穩(wěn)定出色的檢測。（E32-C31 2M+E39-F3R）
通過獨特的濾波器濾除不需要的光，可大幅提高遮光量，穩(wěn)定檢測膠片。
E32系列 特點 23
限定反射型（玻璃檢測用）
E32系列 特點 24
•由于是投光軸和受光軸按相同傾斜角度進行交叉的限定反射的光學系，因此，會接受處于檢測范圍的玻璃的正反射，進行穩(wěn)定檢測。
E32系列 特點 25
耐環(huán)境
耐化學品/耐油
E32系列 特點 27
•采用耐各種化學品的氟樹脂。
氟樹脂耐化學品數(shù)據(jù)（參考）
E32系列 特點 28
注；結(jié)果可能會因濃度而異。
耐彎曲/耐斷線
E32系列 特點 30
•重復彎曲100萬次也不會折斷。
E32系列 特點 31
•特點是，采用多條獨立的細導線，因此彎曲性強，在可動部位使用不會折斷。
E32系列 特點 32
•備有只需通入光纜，就可防止鉤掛及沖擊引起斷線的不銹鋼螺線管。
耐熱
E32系列 特點 34
•種類豐富，可應對100°～350℃的范圍。
請根據(jù)耐熱溫度進行選擇。
專用程序
區(qū)域光束（區(qū)域檢測）
E32系列 特點 36
•通過位置偏差的掉落檢測、蛇形檢測以及不受孔德影響對物體進行檢測時，使用區(qū)域光束較合適。
•數(shù)字值相對于遮光距離為直線輸出，因此也較適用于蛇形檢測。
E32系列 特點 37
液位檢測
E32系列 特點 38
•液體水平檢測分為管安裝型和接液型2種。
管安裝型
檢測透明管中的液面。
將扎帶安裝到管子上后食用。
E32系列 特點 39
接液型
接液后，檢測液面。 由于覆蓋有氟樹脂，因此，耐化學品性能優(yōu)異。
E32系列 特點 40
耐真空
E32系列 特點 41
•可在10-5 Pa的高真空環(huán)境中使用。
•備有耐熱溫度120°C型和200°C型。
E32系列 特點 42
FPD/半導體/太陽能電池行業(yè)
限定反射型
E32系列 特點 43
•玻璃基板校準
檢測距離精度；0.2mm以下
距離發(fā)生變化，檢測位置也不會改變。
特點是抗傾斜性強。
E32系列 特點 45
•玻璃基板映射
在難以檢測的R面也可穩(wěn)定檢測。
E32系列 特點 47
•通過濕法工藝檢測玻璃的有無
無需接觸，玻璃即使有彎曲也可進行穩(wěn)定檢測。
采用球狀頭，可實現(xiàn)不受液體影響的穩(wěn)定檢測。
E32系列 特點 49
對射型
E32系列 特點 50
•晶片映射
E32系列 特點 52
易于設置在機械臂上的薄型形狀。
光軸調(diào)整簡單（機械軸與光軸的偏差僅為±0.1° Typ）
狹窄的晶片之間也可準確檢測晶片。
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